![Scansimulation beim L-PBF](/de/veranstaltungen/rapid-tech/scansimulation-beim-l-pbf/jcr:content/contentPar/sectioncomponent/sectionParsys/textwithasset/imageComponent/image.img.jpg/1651558228313/IFAM-Scansimulation.jpg)
Zeigt eine deutlich verbesserte Oberflächenqualität nach Anpassung der Scanstrategie mittels Temperatursimulation
Institut:
Fraunhofer IFAM
Ansprechpartner:
Claus Aumund-Kopp, claus.aumund-kopp@ifam.fraunhofer.de
Zeigt eine deutlich verbesserte Oberflächenqualität nach Anpassung der Scanstrategie mittels Temperatursimulation
Fraunhofer IFAM
Claus Aumund-Kopp, claus.aumund-kopp@ifam.fraunhofer.de
© Fraunhofer IFAM